ГОСТ

ГОСТ 18986.24-83

Диоды полупроводниковые. Метод измерения пробивного напряжения

Semiconductor diodes. Measurement method of breakdown voltage

Основные сведения

Статус
Действует
Количество страниц
3
ОКС
31.080.10
Дата введения в действие
01.07.1984

Область применения

Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения пробивного напряжения

Подробная информация

Обозначение
ГОСТ 18986.24-83
Полное обозначение
ГОСТ 18986.24-83
Заглавие на русском языке
Диоды полупроводниковые. Метод измерения пробивного напряжения
Заглавие на английском языке
Semiconductor diodes. Measurement method of breakdown voltage
Дата введения в действие
01.07.1984
ОКС
31.080.10
Код ОКП
621000
Код КГС
Э29
Индекс рубрикатора ГРНТИ
470181;473329
Аннотация (область применения)
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения пробивного напряжения
Вид стандарта
4 - Стандарты на методы контроля
Вид требований
Документ имеет отметку *
Нормативные ссылки на: ГОСТ
ГОСТ 18986.0-74; ГОСТ 18986.0-74
Управление Ростехрегулирования
530 - Отдел стандартизации и сертификации информационных технологий, продукции электротехники и приборостроения
Технический комитет России
303 - Изделия электронной техники, материалы и оборудование
Разработчик МНД
Российская Федерация
Межгосударственный ТК
303 - Изделия электронной техники, материалы и оборудование
Дата последнего издания
01.08.2002
Номер(а) изменении(й)
переиздание
Количество страниц (оригинала)
3
Статус
Действует
Код цены
1
Номер ТК за которым закреплен документ
303
Номер приказа о закреплении документа за ТК
217
Дата приказа о закреплении документа за ТК
31.01.2023