ГОСТ 19834.0-75

Подробная информация

Обозначение

ГОСТ 19834.0-75

Полное обозначение

ГОСТ 19834.0-75

Заглавие на русском языке

Излучатели полупроводниковые. Общие требования при измерении параметров

Заглавие на английском языке

Semiconductor emitters. Methods for measurement of parameters. General principles

Дата введения в действие

01.07.1976

ОКС

31.080.99

Код ОКП

621000

Код КГС

Э29

Код ОКСТУ

6309

Индекс рубрикатора ГРНТИ

470181;473331

Аннотация (область применения)

Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые излучатели и устанавливает положения, общие для стандартов на методы измерений спектрофотометрических, преобразовательных и электрических параметров полупроводниковых излучателей. Стандарт входит в комплекс государственных стандартов на методы измерения параметров полупроводниковых излучателей

Термины и определения

Приложение

Вид стандарта

4 - Стандарты на методы контроля

Вид требований

Документ имеет отметку *

Нормативные ссылки на: ГОСТ

ГОСТ 8.023-86; ГОСТ 12.0.004-79; ГОСТ 12.1.004-85; ГОСТ 12.1.030-81; ГОСТ 12.2.007.0-75; ГОСТ 12.3.019-80; ГОСТ 20.57.406-81; ГОСТ 10863-70; ГОСТ 18986.1-73; ГОСТ 18986.2-73; ГОСТ 18986.3-73; ГОСТ 8.023-86ГОСТ 12.0.004-79ГОСТ 12.1.004-85ГОСТ 12.1.030-81ГОСТ 12.2.007.0-75ГОСТ 12.3.019-80ГОСТ 20.57.406-81ГОСТ 10863-70ГОСТ 18986.1-73ГОСТ 18986.2-73ГОСТ 18986.3-73

Управление Ростехрегулирования

530 - Отдел стандартизации и сертификации информационных технологий, продукции электротехники и приборостроения

Разработчик МНД

Российская Федерация

Межгосударственный ТК

169 - Изделия квантовой электроники

Дата последнего издания

24.03.1975

Номер(а) изменении(й)

переиздание с изм. 1

Количество страниц (оригинала)

6

Статус

Действует

Код цены

1

Ограничение срока действия снято

Постановление Госстандарта № 217 от 05.03.91

Номер ТК за которым закреплен документ

303

Номер приказа о закреплении документа за ТК

217

Дата приказа о закреплении документа за ТК

31.01.2023