ГОСТ 18986.14-85

Подробная информация

Обозначение

ГОСТ 18986.14-85

Полное обозначение

ГОСТ 18986.14-85

Заглавие на русском языке

Диоды полупроводниковые. Методы измерения дифференциального и динамического сопротивлений

Заглавие на английском языке

Semiconductor diodes. Methods for measuring differential and slope resistances

Дата введения в действие

01.07.1986

ОКС

31.080.10

Код ОКП

621000

Код КГС

Э29

Индекс рубрикатора ГРНТИ

470181;473329

Аннотация (область применения)

Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает следующие методы измерения дифференциального и динамического сопротивлений: метод замещения; резонансный метод с параллельным контуром; резонансный метод с последовательным контуром; мостовой метод. Стандарт не распространяется на стабилитроны

Ключевые слова

диоды полупроводниковые;методы измерения дифференциального сопротивления;методы измерения динамического сопротивления;методы измерения сопротивлений;полупроводниковые диоды

Вид стандарта

4 - Стандарты на методы контроля

Вид требований

Документ имеет отметку *

Обозначение заменяемого(ых)

ГОСТ 18986.14-75;ГОСТ 19656.8-74

Содержит требования: СЭВ

CT CЭB 2769-80

Нормативные ссылки на: ГОСТ

ГОСТ 20.57.406-81; ГОСТ 18986.0-74; ГОСТ 19656.0-74; ГОСТ 20.57.406-81ГОСТ 18986.0-74ГОСТ 19656.0-74

Управление Ростехрегулирования

530 - Отдел стандартизации и сертификации информационных технологий, продукции электротехники и приборостроения

Технический комитет России

303 - Изделия электронной техники, материалы и оборудование

Разработчик МНД

Российская Федерация

Межгосударственный ТК

303 - Изделия электронной техники, материалы и оборудование

Дата последнего издания

01.05.2004

Номер(а) изменении(й)

переиздание

Количество страниц (оригинала)

11

Статус

Действует

Код цены

2

Номер ТК за которым закреплен документ

303

Номер приказа о закреплении документа за ТК

217

Дата приказа о закреплении документа за ТК

31.01.2023