IEC

IEC 60749-27(2006)

Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 27. Испытание чувствительности к электростатическому разряду. Машинная модель

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)

Основные сведения

Статус
Действует
Количество страниц
28

Подробная информация

Обозначение
IEC 60749-27(2006)
Заглавие на русском языке
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 27. Испытание чувствительности к электростатическому разряду. Машинная модель
Заглавие на английском языке
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)
МКС
31.080.01
Вид стандарта
ST
Обозначение заменяемого(ых)
IEC 60749-27(2003)
Обозначение заменяющего в части
IEC 60749-27(2006)/Amd.1(2012)
Дата опубликования
27.07.2006
Язык оригинала
английский;французский
Количество страниц оригинала
28
ТК – разработчик стандарта
TC 47
Номер издания
2.0
Статус
Действует
Код цены
D