Основные сведения
- Статус
- Отменен
- Количество страниц
- 20
Подробная информация
- Обозначение
- IEC/PAS 62164(2000)
- Заглавие на русском языке
- Руководящие указания по проведению испытаний на долговечность GaAs-полупроводниковых интегральных схем СВЧ-диапазона (GaAs MMIC) и полевых транзисторов (FET)
- Заглавие на английском языке
- Guidelines for GaAs MMIC and FET life testing
- МКС
- 31.080.01
- Вид стандарта
- ST
- Дата опубликования
- 01.08.2000
- Язык оригинала
- английский
- Количество страниц оригинала
- 20
- ТК – разработчик стандарта
- TC 47
- Номер издания
- 1.0
- Статус
- Отменен