IEC

IEC 60749-33(2004)

Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 33. Ускоренное испытание на влагостойкость. Несмещенные автоклавы

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 33: Accelerated moisture resistance - Unbiased autoclave

Основные сведения

Статус
Действует
Количество страниц
12

Подробная информация

Обозначение
IEC 60749-33(2004)
Заглавие на русском языке
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 33. Ускоренное испытание на влагостойкость. Несмещенные автоклавы
Заглавие на английском языке
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 33: Accelerated moisture resistance - Unbiased autoclave
МКС
31.080
Вид стандарта
ST
Обозначение заменяемого(ых)
IEC/PAS 62172(2000)
Примечание
Издание на английском языке
Дата опубликования
11.03.2004
Язык оригинала
английский
Количество страниц оригинала
12
ТК – разработчик стандарта
TC 47
Номер издания
1.0
Статус
Действует
Код цены
C