IEC

IEC 60749-34(2004)

Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 34. Маневренный режим мощности

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34: Power cycling

Основные сведения

Статус
Заменен
Количество страниц
24

Подробная информация

Обозначение
IEC 60749-34(2004)
Заглавие на русском языке
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 34. Маневренный режим мощности
Заглавие на английском языке
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34: Power cycling
МКС
31.080
Вид стандарта
ST
Обозначение заменяемого(ых)
IEC/PAS 62206(2000), IEC 60749-34(2004)
Обозначение заменяющего
IEC 60749-34(2010)
Примечание
Издание двуязычное заменяет английскую версию. Публикация 2005 года
Дата опубликования
01.12.2005
Язык оригинала
английский;французский
Количество страниц оригинала
24
ТК – разработчик стандарта
TC 47
Номер издания
1.0
Статус
Заменен