Основные сведения
- Статус
- Действует
- Количество страниц
- 46
Подробная информация
- Обозначение
- IEC 62374(2007)
- Заглавие на русском языке
- Полупроводниковые приборы. Испытание на пробой диэлектрика в зависимости от времени (TDDB) для управляющих диэлектрических пленок
- Заглавие на английском языке
- Semiconductor devices - Time dependent dielectric breakdown (TDDB) test for gate dielectric films
- МКС
- 31.080
- Вид стандарта
- ST
- Дата опубликования
- 12.04.2007
- Язык оригинала
- английский;французский
- Количество страниц оригинала
- 46
- ТК – разработчик стандарта
- TC 47
- Номер издания
- 1.0
- Статус
- Действует
- Код цены
- F