- Обозначение
- IEC 60749(1996)/Amd.1(2000)
- Заглавие на русском языке
- Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Изменение 1
- Заглавие на английском языке
- Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods. Amendment 1
- МКС
- 31.080.01
- Вид стандарта
- ST
- Обозначение заменяющего
- IEC 60749-1(2002) в части, IEC 60749-2(2002) в части, IEC 60749-3(2002) в части, IEC 60749-4(2002) в части, IEC 60749-5(2003) в части, IEC 60749-6(2002) в части, IEC 60749-7(2002) в части, IEC 60749-8(2002) в части, IEC 60749-9 (2002) в части, IEC 60749-10(2002) в части, IEC 60749-11(2002) в части, IEC 60749-12(2002) в части, IEC 60749-13(2002) в части, IEC 60749-14(2003) в части, IEC 60749-15(2003) в части, IEC 60749-19(2003) в части, IEC 60749-20(2002) в части, IEC 60749-21(2004) в части, IEC 60749-22(2002) в части, IEC 60749-24(2004) в части, IEC 60749-25(2003) в части, IEC 60749-31(2002) в части, IEC 60749-32(2002) в части, IEC 60749-36(2003)
- Обозначение заменяемого в части
- IEC 60749(1996)
- Дата опубликования
- 01.07.2000
- Язык оригинала
- английский;французский
- Количество страниц оригинала
- 21
- ТК – разработчик стандарта
- TC 47
- Номер издания
- 2.0
- Статус
- Заменен
