IEC

IEC 60749-17(2003)

Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 17. Нейтронное облучение

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation

Основные сведения

Статус
Заменен
Количество страниц
14

Подробная информация

Обозначение
IEC 60749-17(2003)
Заглавие на русском языке
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 17. Нейтронное облучение
Заглавие на английском языке
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation
МКС
31.080.01
Вид стандарта
ST
Обозначение заменяющего
IEC 60749-17(2019)
Дата опубликования
28.02.2003
Язык оригинала
английский;французский
Количество страниц оригинала
14
ТК – разработчик стандарта
TC 47
Номер издания
1.0
Статус
Заменен
Код цены
B