Основные сведения
- Статус
- Заменен
- Количество страниц
- 1
Подробная информация
- Обозначение
- IEC 60749-4(2002)/Cor.1(2003)
- Заглавие на русском языке
- Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 4. Высокоускоренные испытания в утяжеленном установившемся режиме, вызванным влажным теплом (HAST). Поправка 1
- Заглавие на английском языке
- Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods. Part 4. Damp heat, steady state, highly accelerated stress tests (HAST). Corrigendum 1
- МКС
- 31.080.01
- Вид стандарта
- ST
- Обозначение заменяющего
- IEC 60749-4(2017)
- Обозначение заменяемого в части
- IEC 60749-4(2002)
- Дата опубликования
- 15.08.2003
- Язык оригинала
- английский;французский
- Количество страниц оригинала
- 1
- ТК – разработчик стандарта
- TC 47
- Номер издания
- 1.0
- Статус
- Заменен
- Код цены
- *