Основные сведения
- Статус
- Действует
- Количество страниц
- 30
Подробная информация
- Обозначение
- IEC 62373(2006)
- Заглавие на русском языке
- Транзисторы со структурой металл-оксид, полупроводниковые, полевые. Испытание стабильности при отклонении температуры
- Заглавие на английском языке
- Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)
- МКС
- 31.080
- Вид стандарта
- ST
- Дата опубликования
- 27.07.2006
- Язык оригинала
- английский;французский
- Количество страниц оригинала
- 30
- ТК – разработчик стандарта
- TC 47
- Номер издания
- 1.0
- Статус
- Действует
- Код цены
- D