IEC

IEC/PAS 62162(2000)

Метод испытания на определение порогов устойчивости к электростатическому разряду для компонентов микроэлектроники с помощью модели зарядного устройства с индуцированным полем

Field-induced charged-devise model test method for electrostatic discharge withstand thresholds of microelectronic components

Основные сведения

Статус
Действует
Количество страниц
7

Подробная информация

Обозначение
IEC/PAS 62162(2000)
Заглавие на русском языке
Метод испытания на определение порогов устойчивости к электростатическому разряду для компонентов микроэлектроники с помощью модели зарядного устройства с индуцированным полем
Заглавие на английском языке
Field-induced charged-devise model test method for electrostatic discharge withstand thresholds of microelectronic components
МКС
31.080.01
Вид стандарта
ST
Дата опубликования
01.08.2000
Язык оригинала
английский
Количество страниц оригинала
7
ТК – разработчик стандарта
TC 47
Номер издания
1.0
Статус
Действует
Код цены
B