IEC

IEC 60147-5(1977)

Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 5: Mechanical and climatic test methods

Основные сведения

Статус
Заменен
Количество страниц
37

Подробная информация

Обозначение
IEC 60147-5(1977)
Заглавие на английском языке
Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 5: Mechanical and climatic test methods
Вид стандарта
ST*N
Дескрипторы (английский язык)
CLIMATIC TESTS*ELECTRICAL ENGINEERING*ELECTRONIC ENGINEERING*ELECTRONIC EQUIPMENT AND COMPONENTS*LIMITS (MATHEMATICS)*MEASUREMENT*MECHANICAL TESTING*PROPERTIES*SEMICONDUCTOR DEVICES*SEMICONDUCTORS*TESTING*ELECTRONIC EQU*MATHEMATICS
Обозначение заменяющего
IEC 60749(1984)
Дата опубликования
01.01.1977
Язык оригинала
en*fr
Количество страниц оригинала
37
ТК – разработчик стандарта
IEC/TC 47
Номер издания
1.0
Статус
Заменен