Основные сведения
- Статус
- Заменен
- Количество страниц
- 45
Подробная информация
- Обозначение
- IEC 60147-0F(1982)
- Заглавие на русском языке
- Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы измерений. Часть 0. Общие положения и терминология. Шестое дополнение к публикации 147-0-66
- Заглавие на английском языке
- Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods.
- МКС
- 31.080
- Вид стандарта
- ST*N
- Дескрипторы (английский язык)
- DEFINITIONS*ELECTRICAL ENGINEERING*ELECTRONIC ENGINEERING*ELECTRONIC EQUIPMENT AND COMPONENTS*LIMITS (MATHEMATICS)*MEASUREMENT*PROPERTIES*SEMICONDUCTOR DEVICES*SEMICONDUCTORS*TERMINOLOGY*ELECTRONIC EQU*MATHEMATICS
- Обозначение заменяющего
- IEC 60747-1(1983)*IEC 60747-2(1983)*IEC 60747-6(1983)
- Дата опубликования
- 01.01.1982
- Язык оригинала
- en*fr
- Количество страниц оригинала
- 45
- ТК – разработчик стандарта
- IEC/TC 47
- Номер издания
- 1.0
- Статус
- Заменен