IEC

IEC 60749-27(2003)

Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 26. Испытание чувствительности к электростатическому разряду. Машинная модель

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)

Основные сведения

Статус
Заменен
Количество страниц
25

Подробная информация

Обозначение
IEC 60749-27(2003)
Заглавие на русском языке
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 26. Испытание чувствительности к электростатическому разряду. Машинная модель
Заглавие на английском языке
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)
МКС
31.080.01
Вид стандарта
ST
Обозначение заменяемого(ых)
IEC/PAS 62180(2000)
Обозначение заменяющего
IEC 60749-27(2006)
Дата опубликования
30.10.2003
Язык оригинала
английский;французский
Количество страниц оригинала
25
ТК – разработчик стандарта
TC 47
Номер издания
1.0
Статус
Заменен