Основные сведения
- Статус
- Заменен
- Количество страниц
- 29
Подробная информация
- Обозначение
- IEC 60147-3(1970)
- Заглавие на русском языке
- Основные предельнодопустимые величины параметров и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы измерений часть 3. Эталонные методы измерений
- Заглавие на английском языке
- Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 3 : Reference methods of measurement
- МКС
- 31.020
- Вид стандарта
- ST*N
- Дескрипторы (английский язык)
- ELECTRICAL ENGINEERING*ELECTRONIC ENGINEERING*ELECTRONIC EQUIPMENT AND COMPONENTS*LIMITS (MATHEMATICS)*MEASUREMENT*PROPERTIES*SEMICONDUCTOR DEVICES*SEMICONDUCTORS*ELECTRONIC EQU*MATHEMATICS
- Обозначение заменяющего
- IEC 60747-1(1983)*IEC 60747-2(1983)*IEC 60747-6(1983)
- Дата опубликования
- 01.01.1970
- Язык оригинала
- en*fr
- Количество страниц оригинала
- 29
- Количество страниц перевода
- 20
- ТК – разработчик стандарта
- IEC/TC 47
- Номер издания
- 1.0
- Статус
- Заменен