IEC

IEC 60749-30(2005)

Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 30. Предварительное кондиционирование негерметично смонтированных на поверхности приборов перед испытаниями на надежность

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing

Основные сведения

Статус
Заменен
Количество страниц
30

Подробная информация

Обозначение
IEC 60749-30(2005)
Заглавие на русском языке
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 30. Предварительное кондиционирование негерметично смонтированных на поверхности приборов перед испытаниями на надежность
Заглавие на английском языке
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing
МКС
31.080.01
Вид стандарта
ST
Обозначение заменяемого(ых)
IEC/PAS 62182(2000)
Обозначение заменяющего
IEC 60749-30(2020)
Обозначение заменяющего в части
IEC 60749-30(2005)/Amd.1(2011)
Дата опубликования
27.01.2005
Язык оригинала
английский;французский
Количество страниц оригинала
30
ТК – разработчик стандарта
TC 47
Номер издания
1.0
Статус
Заменен
Код цены
D