Основные сведения
- Статус
- Заменен
- Количество страниц
- 8
Подробная информация
- Обозначение
- IEC/PAS 62189(2000)
- Заглавие на русском языке
- Влияние смещения в течение срока службы полупроводникового прибора
- Заглавие на английском языке
- Bias Life
- МКС
- 31.080.01
- Вид стандарта
- ST
- Обозначение заменяющего
- IEC 60749-23(2004)
- Дата опубликования
- 01.11.2000
- Язык оригинала
- английский
- Количество страниц оригинала
- 8
- ТК – разработчик стандарта
- TC 47
- Номер издания
- 1.0
- Статус
- Заменен