Основные сведения
- Статус
- Заменен
- Количество страниц
- 44
Подробная информация
- Обозначение
- IEC 60749-29(2003)
- Заглавие на русском языке
- Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 29. Испытание на "защелкивание"
- Заглавие на английском языке
- Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test
- МКС
- 31.080
- Вид стандарта
- ST
- Обозначение заменяемого(ых)
- IEC/PAS 62181(2000)
- Обозначение заменяющего
- IEC 60749-29(2011)
- Гармонизирован с:
- IEC60749-29(CD 04-2004)WM/180D-04
- Дата опубликования
- 13.11.2003
- Язык оригинала
- английский;французский
- Количество страниц оригинала
- 44
- ТК – разработчик стандарта
- TC 47
- Номер издания
- 1.0
- Статус
- Заменен