IEC

IEC 60749-16(2003)

Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 16. Обнаружение частиц по импульсному шуму

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 16: Particle impact noise detection (PIND)

Основные сведения

Статус
Действует
Количество страниц
16

Подробная информация

Обозначение
IEC 60749-16(2003)
Заглавие на русском языке
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 16. Обнаружение частиц по импульсному шуму
Заглавие на английском языке
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 16: Particle impact noise detection (PIND)
МКС
31.080.01
Вид стандарта
ST
Обозначение заменяемого(ых)
IEC/PAS 62171(2000)
Дата опубликования
31.01.2003
Язык оригинала
английский;французский
Количество страниц оригинала
16
ТК – разработчик стандарта
TC 47
Номер издания
1.0
Статус
Действует
Код цены
B