IEC

IEC 60749-32(2002)/Cor.1(2003)

Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 32. Воспламеняемость приборов с герметизацией пластмассой (случай внешнего воспламенения). Поправка 1

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Part 32. Flammability of plastic-encapsulated devices (externally induced). Corrigendum 1

Основные сведения

Статус
Действует
Количество страниц
1

Подробная информация

Обозначение
IEC 60749-32(2002)/Cor.1(2003)
Заглавие на русском языке
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 32. Воспламеняемость приборов с герметизацией пластмассой (случай внешнего воспламенения). Поправка 1
Заглавие на английском языке
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Part 32. Flammability of plastic-encapsulated devices (externally induced). Corrigendum 1
МКС
31.080.01
Вид стандарта
ST
Обозначение заменяемого в части
IEC 60749-32(2002)
Дата опубликования
15.08.2003
Язык оригинала
английский;французский
Количество страниц оригинала
1
ТК – разработчик стандарта
TC 47
Номер издания
1.0
Статус
Действует
Код цены
*