Основные сведения
- Статус
- Действует
- Количество страниц
- 46
Подробная информация
- Обозначение
- IEC 60749-35(2006)
- Заглавие на русском языке
- Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 35. Акустическая микроскопия для электронных компонентов в пластиковой упаковке
- Заглавие на английском языке
- Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components
- МКС
- 31.080.01
- Вид стандарта
- ST
- Обозначение заменяемого(ых)
- IEC/PAS 62191(2000)
- Дата опубликования
- 27.07.2006
- Язык оригинала
- английский;французский
- Количество страниц оригинала
- 46
- ТК – разработчик стандарта
- TC 47
- Номер издания
- 1.0
- Статус
- Действует
- Код цены
- F