Основные сведения
- Статус
- Заменен
- Количество страниц
- 21
Подробная информация
- Обозначение
- IEC/PAS 62181(2000)
- Заглавие на русском языке
- Испытание нарушения срабатывания интегральных схем (IC)
- Заглавие на английском языке
- IC latch-up test
- МКС
- 31.080.01
- Наличие терминов РОСТЕРМ
- 1
- Вид стандарта
- ST
- Обозначение заменяющего
- IEC 60749-29(2003)
- Дата опубликования
- 01.07.2000
- Язык оригинала
- английский
- Количество страниц оригинала
- 21
- ТК – разработчик стандарта
- TC 47
- Номер издания
- 1.0
- Статус
- Заменен