Основные сведения
- Статус
- Отменен
- Количество страниц
- 38
Подробная информация
- Обозначение
- IEC/PAS 62202(2000)
- Заглавие на русском языке
- Механизмы и модели отказа для кремниевых полупроводниковых приборов
- Заглавие на английском языке
- Failure mechanisms and models for silicon semiconductor devices
- МКС
- 31.080.01
- Вид стандарта
- ST
- Дата опубликования
- 01.11.2000
- Язык оригинала
- английский
- Количество страниц оригинала
- 38
- ТК – разработчик стандарта
- TC 47
- Номер издания
- 1.0
- Статус
- Отменен