Основные сведения
- Статус
- Заменен
- Количество страниц
- 16
Подробная информация
- Обозначение
- IEC 60749-5(2003)
- Заглавие на русском языке
- Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 5: Испытания на долговечность при смещении установившегося состояния по температуре и влажности
- Заглавие на английском языке
- Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test
- МКС
- 31.080.01
- Вид стандарта
- ST
- Обозначение заменяемого(ых)
- IEC/PAS 62161(2000), IEC 60749(1996) в части, IEC 60749(1996)/Amd.1(2000) в части, IEC 60749(1996)/Amd.2(2001) в части, IEC 60749(2002) в части
- Обозначение заменяющего
- IEC 60749-5(2017)
- Дата опубликования
- 31.01.2003
- Язык оригинала
- английский;французский
- Количество страниц оригинала
- 16
- ТК – разработчик стандарта
- TC 47
- Номер издания
- 1.0
- Статус
- Заменен
- Код цены
- B