Основные сведения
- Статус
- Заменен
- Количество страниц
- 30
Подробная информация
- Обозначение
- IEC 60749-18(2002)
- Заглавие на русском языке
- Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 18. Нейтронное облучение (суммарная доза)
- Заглавие на английском языке
- Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose)
- МКС
- 31.080.01
- Вид стандарта
- ST
- Обозначение заменяющего
- IEC 60749-18(2019)
- Дата опубликования
- 20.12.2002
- Язык оригинала
- английский;французский
- Количество страниц оригинала
- 30
- ТК – разработчик стандарта
- TC 47
- Номер издания
- 1.0
- Статус
- Заменен
- Код цены
- D