Основные сведения
- Статус
- Заменен
- Количество страниц
- 73
Подробная информация
- Обозначение
- IEC 60147-2C(1970)
- Заглавие на русском языке
- Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы измерений. Часть 2: общие принципы методов измерений. Десятое дополнение к публикации 147-2-63
- Заглавие на английском языке
- Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 2 : General principles of measuring methods.
- МКС
- 31.020
- Вид стандарта
- ST*N
- Дескрипторы (английский язык)
- ELECTRICAL ENGINEERING*ELECTRONIC ENGINEERING*ELECTRONIC EQUIPMENT AND COMPONENTS*LIMITS (MATHEMATICS)*MEASUREMENT*PROPERTIES*SEMICONDUCTOR DEVICES*SEMICONDUCTORS*ELECTRONIC EQU*MATHEMATICS
- Обозначение заменяющего
- IEC 60747-1(1983)*IEC 60747-2(1983)*IEC 60747-6(1983)
- Дата опубликования
- 01.01.1970
- Язык оригинала
- en*fr
- Количество страниц оригинала
- 73
- Количество страниц перевода
- 45
- ТК – разработчик стандарта
- IEC/TC 47
- Номер издания
- 1.0
- Статус
- Заменен