Основные сведения
- Статус
- Заменен
- Количество страниц
- 51
Подробная информация
- Обозначение
- IEC 60147-0D(1974)
- Заглавие на английском языке
- Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods.
- Вид стандарта
- ST*N
- Дескрипторы (английский язык)
- DEFINITIONS*ELECTRICAL ENGINEERING*ELECTRONIC ENGINEERING*ELECTRONIC EQUIPMENT AND COMPONENTS*LIMITS (MATHEMATICS)*MEASUREMENT*PROPERTIES*SEMICONDUCTOR DEVICES*SEMICONDUCTORS*TERMINOLOGY*ELECTRONIC EQU*MATHEMATICS
- Обозначение заменяющего
- IEC 60747-1(1983)*IEC 60747-2(1983)*IEC 60747-3(1985)*IEC 60748-2(1985)*IEC 60748-3(1986)
- Дата опубликования
- 01.01.1974
- Язык оригинала
- en*fr
- Количество страниц оригинала
- 51
- ТК – разработчик стандарта
- IEC/TC 47
- Номер издания
- 1.0
- Статус
- Заменен
