IEC

IEC 60147-2G(1975)

Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 2 : General principles of measuring methods. Seventh supplement: Chapter IV: Field-effect transistors

Основные сведения

Статус
Заменен
Количество страниц
41

Подробная информация

Обозначение
IEC 60147-2G(1975)
Заглавие на английском языке
Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 2 : General principles of measuring methods. Seventh supplement: Chapter IV: Field-effect transistors
Вид стандарта
ST*N
Дескрипторы (английский язык)
ELECTRICAL ENGINEERING*ELECTRONIC ENGINEERING*ELECTRONIC EQUIPMENT AND COMPONENTS*FIELD-EFFECT TRANSISTORS*LIMITS (MATHEMATICS)*MEASUREMENT*PROPERTIES*SEMICONDUCTOR DEVICES*SEMICONDUCTORS*TRANSISTORS*ELECTRONIC EQU*MATHEMATICS
Обозначение заменяющего
IEC 60747-8(1984)
Дата опубликования
01.01.1975
Язык оригинала
en*fr
Количество страниц оригинала
41
ТК – разработчик стандарта
IEC/TC 47
Номер издания
1.0
Статус
Заменен