IEC

IEC 60749-34(2004)

Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 34. Маневренный режим мощности

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34: Power cycling

Основные сведения

Статус
Заменен
Количество страниц
14

Подробная информация

Обозначение
IEC 60749-34(2004)
Заглавие на русском языке
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 34. Маневренный режим мощности
Заглавие на английском языке
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34: Power cycling
МКС
31.080
Вид стандарта
ST
Обозначение заменяемого(ых)
IEC/PAS 62206(2000)
Обозначение заменяющего
IEC 60749-34(2004)
Примечание
Издание на английском языке, настоящая версия заменена англо-французской версией, опубликованной в 2005 году
Дата опубликования
11.03.2004
Язык оригинала
английский
Количество страниц оригинала
14
ТК – разработчик стандарта
TC 47
Номер издания
1.0
Статус
Заменен