IEC

IEC 60747-8-1(1987)

Приборы полупроводниковые. Дискретные приборы и интегральные схемы. Раздел 1: Типовая форма частных технических условий: полевые транзисторы с одним затвором мощностью до 5 Вт и частотой 1 ГГц

Semiconductor devices - Discret devices. Part 8: Field-effect transistors. Blank detail specification for single-gate field-effect transistors, up to 5 W and 1 GHz

Основные сведения

Статус
Отменен
Количество страниц
38

Подробная информация

Обозначение
IEC 60747-8-1(1987)
Заглавие на русском языке
Приборы полупроводниковые. Дискретные приборы и интегральные схемы. Раздел 1: Типовая форма частных технических условий: полевые транзисторы с одним затвором мощностью до 5 Вт и частотой 1 ГГц
Заглавие на английском языке
Semiconductor devices - Discret devices. Part 8: Field-effect transistors. Blank detail specification for single-gate field-effect transistors, up to 5 W and 1 GHz
МКС
31.080.30
Вид стандарта
ST*N
Дескрипторы (английский язык)
ASSESSMENT LEVEL*BARRIERS LAYERS*COMPONENTS*DEFINITIONS*DETAIL SPECIFICATION*ELECTRICAL ENGINEERING*ELECTRONIC ENGINEERING*ELECTRONIC EQUIPMENT AND COMPONENTS*FIELD-EFFECT TRANSISTORS*INSPECTION*INTEGRATED CIRCUITS*LIMITS (MATHEMATICS)*MARKING*MEASUREMENT*MEASURING TECHNIQUES*MECHANICAL PROPERTIES*PROPERTIES*QUALITY ASSESSMENT PROCEDURES*QUALITY ASSESSMENT SYSTEMS*RATINGS*SEMICONDUCTOR DEVICES*SEMICONDUCTORS*SPECIFICATION (APPROVAL)*SYMBOLS*TRANSISTORS*SPECIFICATIONS*ELECTRONIC EQU*MATHEMATICS
Дата опубликования
01.01.1987
Язык оригинала
английский;французский
Количество страниц оригинала
38
ТК – разработчик стандарта
SC 47E
Номер издания
1.0
Статус
Отменен