IEC

IEC 60747-7(1988)

Приборы полупроводниковые. Дискретные приборы и интегральные схемы. Часть 7: Биполярные транзисторы

Semiconductor devices. Discrete and integrated circuits; part 7: bipolar transistors

Основные сведения

Статус
Заменен
Количество страниц
233

Подробная информация

Обозначение
IEC 60747-7(1988)
Заглавие на русском языке
Приборы полупроводниковые. Дискретные приборы и интегральные схемы. Часть 7: Биполярные транзисторы
Заглавие на английском языке
Semiconductor devices. Discrete and integrated circuits; part 7: bipolar transistors
МКС
31.080.30
Вид стандарта
ST*N
Дескрипторы (английский язык)
ACCEPTANCE INSPECTION*BIPOLAR*BIPOLAR TRANSISTORS*COMPONENTS*DEFINITIONS*ELECTRICAL ENGINEERING*ELECTRONIC ENGINEERING*ELECTRONIC EQUIPMENT AND COMPONENTS*HIGH FREQUENCIES*INSPECTION*INTEGRATED CIRCUITS*LAYOUT*LIFE (DURABILITY)*LOW FREQUENCIES*LOW-FREQUENCY ENGINEERING*MEASUREMENT*MEASURING TECHNIQUES*PROPERTIES*RADIOFREQUENCIES*RATINGS*REFERENCE METHODS*RELIABILITY*SEMICONDUCTOR DEVICES*SEMICONDUCTORS*SPECIFICATION (APPROVAL)*SYMBOLS*TRANSISTORS*ACCEPTANCE TESTING*SPECIFICATIONS*ELECTRONIC EQU*LIFE : DURABILITY*RADIO FREQUENCIES
Обозначение заменяющего
IEC 60747-7(2000)
Обозначение заменяющего в части
IEC 60747-7(1988)/Amd.1(1991); IEC 60747-7(1988)/Amd.2(1994)
Дата опубликования
01.01.1988
Язык оригинала
английский;французский
Количество страниц оригинала
233
Количество страниц перевода
138
ТК – разработчик стандарта
IEC/SC 47E
Номер издания
1.0
Статус
Заменен