Основные сведения
- Статус
- Действует
- Количество страниц
- 128
Подробная информация
- Обозначение
- IEC 62526(2007)
- Заглавие на русском языке
- Стандартный язык тестирования интерфейсов (STIL) для сред проектирования полупроводников
- Заглавие на английском языке
- Standard for Extensions to Standard Test Interface Language (STIL) for Semiconductor Design Environments
- МКС
- 25.040
- Вид стандарта
- ST
- Дата опубликования
- 15.11.2007
- Язык оригинала
- английский
- Количество страниц оригинала
- 128
- ТК – разработчик стандарта
- TC 93
- Номер издания
- 1.0
- Статус
- Действует
- Код цены
- N