Основные сведения
- Статус
- Отменен
- Количество страниц
- 90
Подробная информация
- Обозначение
- IEC 60747-10(1991)
- Заглавие на русском языке
- Приборы полупроводниковые. Дискретные приборы и интегральные схемы. Часть 10: Общие технические условия на дискретные приборы и интегральные схемы
- Заглавие на английском языке
- Semiconductor devices; part 10: generic specification for discrete devices and integrated circuits
- МКС
- 31.080.01; 31.200
- Вид стандарта
- ST*N
- Дескрипторы (английский язык)
- DISCRETE*ELECTRICAL ENGINEERING*ELECTRICAL MEASUREMENT*ELECTRONIC ENGINEERING*ELECTRONIC EQUIPMENT AND COMPONENTS*ENVIRONMENTAL TESTING*INSPECTION*INTEGRATED CIRCUITS*MARKING*MEASUREMENT*QUALITY*QUALITY ASSESSMENT*QUALITY ASSURANCE*QUALITY ASSURANCE SYSTEMS*SAMPLES*SEMICONDUCTOR DEVICES*SPECIFICATION*SPECIFICATIONS*TESTING*TYPE APPROVAL*VISUAL INSPECTION (TESTING)*ELECTRIC MEASUREMENTS*ELECTRONIC EQU*PROBATE PROCEDURE*QUALITY ASSURANCE PROGRA*MACROSCOPIC ANALYSIS
- Обозначение заменяемого(ых)
- IEC 60747-10(1984)
- Обозначение заменяющего в части
- IEC 60747-10(1991)/Amd.1(1995); IEC 60747-10(1991)/Amd.2(1996); IEC 60747-10(1991)/Amd.3(1996)
- Дата опубликования
- 01.04.1991
- Язык оригинала
- английский;французский
- Количество страниц оригинала
- 90
- ТК – разработчик стандарта
- TC 47
- Номер издания
- 2.0
- Статус
- Отменен