Основные сведения
- Статус
- Отменен
- Количество страниц
- 38
Подробная информация
- Обозначение
- IEC 60747-11(1985)
- Заглавие на русском языке
- Приборы полупроводниковые. Дискретные приборы и интегральные схемы. Часть 11: Частные технические условия на дискретные приборы
- Заглавие на английском языке
- Semiconductor devices. Discrete devices. Part 11 : Sectional Specification for discrete devices
- МКС
- 31.080.01
- Вид стандарта
- ST*N
- Дескрипторы (английский язык)
- COMPONENTS*ELECTRICAL ENGINEERING*ELECTRONIC ENGINEERING*ELECTRONIC EQUIPMENT AND COMPONENTS*INSPECTION*INTEGRATED CIRCUITS*MARKING*MEASUREMENT*METHODS FOR MEASURING*QUALITY*QUALITY ASSESSMENT*QUALITY ASSESSMENT SYSTEMS*SECTIONAL SPECIFICATION*SEMICONDUCTOR DEVICES*SEMICONDUCTORS*SPECIFICATION (APPROVAL)*SPECIFICATIONS*TESTING*ELECTRONIC EQU
- Обозначение заменяющего в части
- IEC 60747-11(1985)/Amd.1(1991); IEC 60747-11(1985)/Amd.2(1996)
- Примечание
- Перевод выполнен без учета измененной части нового издания
- Дата опубликования
- 01.01.1985
- Язык оригинала
- английский;французский
- Количество страниц оригинала
- 38
- Количество страниц перевода
- 32
- ТК – разработчик стандарта
- TC 47
- Номер издания
- 1.0
- Статус
- Отменен