IEC

IEC 62528(2007)

Стандартный метод проверки возможности тестирования для встроенных интегрированных цепей на основе ядра микропроцессора

Standard Testability Method for Embedded Core-based Integrated Circuits

Основные сведения

Статус
Действует
Количество страниц
130

Подробная информация

Обозначение
IEC 62528(2007)
Заглавие на русском языке
Стандартный метод проверки возможности тестирования для встроенных интегрированных цепей на основе ядра микропроцессора
Заглавие на английском языке
Standard Testability Method for Embedded Core-based Integrated Circuits
МКС
31.220
Вид стандарта
ST
Дата опубликования
15.11.2007
Язык оригинала
английский
Количество страниц оригинала
130
ТК – разработчик стандарта
TC 93
Номер издания
1.0
Статус
Действует
Код цены
N