Основные сведения
- Статус
- Заменен
- Количество страниц
- 59
Подробная информация
- Обозначение
- IEC 60749(1984)
- Заглавие на английском языке
- Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods
- Вид стандарта
- ST*N
- Дескрипторы (английский язык)
- CLIMATE*CLIMATIC TESTS*COMPONENTS*ELECTRICAL ENGINEERING*ELECTRICAL MEASUREMENT*ELECTRONIC ENGINEERING*ELECTRONIC EQUIPMENT AND COMPONENTS*ENVIRONMENTAL TESTING*INTEGRATED CIRCUITS*MECHANICAL TESTING*SEMICONDUCTOR DEVICES*SEMICONDUCTORS*TESTING*TESTING METHODS*ELECTRIC MEASUREMENTS*ELECTRONIC EQU
- Обозначение заменяемого(ых)
- IEC 60147-5(1977), IEC 60147-5A(1981)
- Обозначение заменяющего
- IEC 60749(1996.10)
- Обозначение заменяющего в части
- IEC 60749(1984)/Amd.1(1991); IEC 60749(1984)/Amd.2(1993)
- Дата опубликования
- 01.01.1984
- Язык оригинала
- английский;французский
- Количество страниц оригинала
- 59
- ТК – разработчик стандарта
- IEC/TC 47
- Номер издания
- 1.0
- Статус
- Заменен
