IEC

IEC 60747-2(1983)

Приборы полупроводниковые. Дискретные приборы и интегральные схемы. Часть 2: Выпрямительные диоды

Semiconductor devices. Discrete devices. Part 2 : Rectifier diodes

Основные сведения

Статус
Заменен
Количество страниц
101

Подробная информация

Обозначение
IEC 60747-2(1983)
Заглавие на русском языке
Приборы полупроводниковые. Дискретные приборы и интегральные схемы. Часть 2: Выпрямительные диоды
Заглавие на английском языке
Semiconductor devices. Discrete devices. Part 2 : Rectifier diodes
МКС
31.080.10
Вид стандарта
ST*N
Дескрипторы (английский язык)
ACCEPTANCE INSPECTION*DEFINITIONS*DIODES*ELECTRICAL ENGINEERING*ELECTRICAL MEASUREMENT*ELECTRONIC ENGINEERING*ELECTRONIC EQUIPMENT AND COMPONENTS*INSPECTION*INTEGRATED CIRCUITS*LIMITS (MATHEMATICS)*MARKING*MEASUREMENT*RATINGS*RECTIFIER DIODES*RELIABILITY*SEMICONDUCTOR DEVICES*SEMICONDUCTORS*SPECIFICATION (APPROVAL)*SYMBOLS*ACCEPTANCE TESTING*SPECIFICATIONS*ELECTRIC MEASUREMENTS*ELECTRONIC EQU*MATHEMATICS
Обозначение заменяемого(ых)
IEC 60147-1G(1975)*IEC 60147-0D(1974)*IEC 60147-0E(1979)*IEC 60147-0(1966)*IEC 60147-0B(1969)*IEC 60147-0C(1973)*IEC 60147-0F(1982)*IEC 60147-1(1972)*IEC 60147-1F(1973)*IEC 60147-1H(1981)*IEC 60147-1J(1981)*IEC 60147-2(1963)*IEC 60147-2B(1970)*IEC 60147-2C(1970)*IEC 60147-2F(1974)*IEC 60147-2K(1978)*IEC 60147-2M(1980)*IEC 60147-3(1970)*IEC 60147-3A(1973)*IEC 60147-4(1976)
Обозначение заменяющего
IEC 60747-2(2000)
Обозначение заменяющего в части
IEC 60747-2(1983)/Amd.1(1992); IEC 60747-2(1983)/Amd.2(1993)
Дата опубликования
01.01.1983
Язык оригинала
английский;французский
Количество страниц оригинала
101
ТК – разработчик стандарта
IEC/TC 47
Номер издания
1.0
Статус
Заменен