Основные сведения
- Статус
- Заменен
- Количество страниц
- 33
Подробная информация
- Обозначение
- IEC 60749(1984)/Amd.1(1991)
- Заглавие на английском языке
- Semiconductor devices; mechanical and climatic test methods; amendment 1
- Вид стандарта
- ST*N
- Дескрипторы (английский язык)
- CLIMATIC TESTS*ELECTRICAL ENGINEERING*ELECTRONIC ENGINEERING*ELECTRONIC EQUIPMENT AND COMPONENTS*MECHANICAL TESTING*SEMICONDUCTOR DEVICES*SEMICONDUCTORS*TEST METHODS*ELECTRONIC EQU
- Обозначение заменяющего
- IEC 60749(1996.10)
- Обозначение заменяемого в части
- IEC 60749(1984)
- Дата опубликования
- 01.11.1991
- Язык оригинала
- английский;французский
- Количество страниц оригинала
- 33
- ТК – разработчик стандарта
- IEC/TC 47
- Номер издания
- 1.0
- Статус
- Заменен
