IEC

IEC 60748-11-1(1992)

Приборы полупроводниковые. Интегральные схемы. Часть 11: Раздел 1: Внутренний визуальный контроль полупроводниковых интегральных схем, за исключением гибридных схем

Semiconductor devices; integrated circuits; part 11; section 1: internal visual examination for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits

Основные сведения

Статус
Действует
Количество страниц
74

Подробная информация

Обозначение
IEC 60748-11-1(1992)
Заглавие на русском языке
Приборы полупроводниковые. Интегральные схемы. Часть 11: Раздел 1: Внутренний визуальный контроль полупроводниковых интегральных схем, за исключением гибридных схем
Заглавие на английском языке
Semiconductor devices; integrated circuits; part 11; section 1: internal visual examination for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits
МКС
31.200
Вид стандарта
ST*N
Дескрипторы (английский язык)
CIRCUIT ENGINEERING*ELECTRICAL ENGINEERING*INTEGRATED CIRCUITS*SEMICONDUCTOR DEVICES*SPECIFICATION*VISUAL INSPECTION (TESTING)*MACROSCOPIC ANALYSIS
Гармонизирован с:
ГОСТ Р МЭК 748-11-1-2001
Дата опубликования
01.04.1992
Язык оригинала
английский;французский
Количество страниц оригинала
74
ТК – разработчик стандарта
TC 47
Номер издания
1.0
Статус
Действует
Код цены
H