Основные сведения
- Статус
- Заменен
- Количество страниц
- 31
Подробная информация
- Обозначение
- IEC 60749(1984)/Amd.2(1993)
- Заглавие на английском языке
- Semiconductor devices; mechanical and climatic test methods; amendment 2
- Вид стандарта
- ST*N
- Дескрипторы (английский язык)
- CLIMATIC TESTS*ELECTRICAL ENGINEERING*IMMERSION*MECHANICAL TESTING*MOISTURE TEST*SEMICONDUCTOR DEVICES*SOAKING TESTS*SOLDERING HEAT*SPECTROMETRY*TEST APPARATUS*TESTING*DIP COATING*DIP COATING
- Обозначение заменяемого(ых)
- IEC/DIS 47(Central Office)1252(1991.08)*IEC/DIS 47(Central Office)1314(1991.10)*IEC/DIS 47(Central Office)1316(1992.01)
- Обозначение заменяющего
- IEC 60749(1996.10)
- Обозначение заменяемого в части
- IEC 60749(1984)
- Дата опубликования
- 01.09.1993
- Язык оригинала
- английский;французский
- Количество страниц оригинала
- 31
- ТК – разработчик стандарта
- IEC/TC 47
- Номер издания
- 1.0
- Статус
- Заменен
