Основные сведения
- Статус
- Заменен
- Количество страниц
- 50
Подробная информация
- Обозначение
- IEC 60747-10(1984)
- Заглавие на английском языке
- Semiconductor devices. Discrete devices. Part 10 : Generic specifications for discrete devices and integrated circuits
- Вид стандарта
- ST*N
- Дескрипторы (английский язык)
- ELECTRICAL ENGINEERING*ELECTRICAL MEASUREMENT*ELECTRONIC ENGINEERING*ELECTRONIC EQUIPMENT AND COMPONENTS*ENVIRONMENTAL TESTING*GENERIC SPECIFICATION*INSPECTION*INTEGRATED CIRCUITS*MARKING*MEASUREMENT*QUALITY*QUALITY ASSESSMENT*QUALITY ASSURANCE*QUALITY ASSURANCE SYSTEMS*SAMPLES*SEMICONDUCTOR DEVICES*SEMICONDUCTORS*SPECIFICATION (APPROVAL)*SPECIFICATIONS*TESTING*TYPE APPROVAL*VISUAL INSPECTION (TESTING)*ELECTRIC MEASUREMENTS*ELECTRONIC EQU*PROBATE PROCEDURE*QUALITY ASSURANCE PROGRA*MACROSCOPIC ANALYSIS
- Обозначение заменяющего
- IEC 60747-10(1991.04)
- Дата опубликования
- 01.01.1984
- Язык оригинала
- английский;французский
- Количество страниц оригинала
- 50
- ТК – разработчик стандарта
- IEC/TC 47
- Номер издания
- 1.0
- Статус
- Заменен
