Основные сведения
- Статус
- Действует
- Количество страниц
- 30
Подробная информация
- Обозначение
- IEC 60749-38(2008)
- Заглавие на русском языке
- Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 38. Метод испытания на сбой для полупроводниковых устройств с памятью
- Заглавие на английском языке
- Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory
- МКС
- 31.080.01
- Вид стандарта
- ST
- Дата опубликования
- 14.02.2008
- Язык оригинала
- английский;французский
- Количество страниц оригинала
- 30
- ТК – разработчик стандарта
- TC 47
- Номер издания
- 1.0
- Статус
- Действует
- Код цены
- D