IEC

IEC 60749-11(2002)

Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 11. Быстрое изменение температуры. Метод двух ванн

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Part 11: Rapid change of temperature. Two-fluid-bath method

Основные сведения

Статус
Действует
Количество страниц
16

Подробная информация

Обозначение
IEC 60749-11(2002)
Заглавие на русском языке
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 11. Быстрое изменение температуры. Метод двух ванн
Заглавие на английском языке
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Part 11: Rapid change of temperature. Two-fluid-bath method
МКС
31.080.01
Вид стандарта
ST
Обозначение заменяемого(ых)
IEC/PAS 62185(2000), IEC 60749(1996) в части, IEC 60749(1996)/Amd.1(2000) в части, IEC 60749(1996)/Amd.2(2001) в части, IEC 60749(2002) в части
Обозначение заменяющего в части
IEC 60749-11(2002)/Cor.1(2003), IEC 60749-11(2002)/Cor.2(2003)
Дата опубликования
01.04.2002
Язык оригинала
английский;французский
Количество страниц оригинала
16
ТК – разработчик стандарта
TC 47
Номер издания
1.0
Статус
Действует
Код цены
B