IEC

IEC 60749-12(2002)

Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 12. Вибрации, переменная частота

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Part 12: Vibration, variable frequency

Основные сведения

Статус
Заменен
Количество страниц
10

Подробная информация

Обозначение
IEC 60749-12(2002)
Заглавие на русском языке
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 12. Вибрации, переменная частота
Заглавие на английском языке
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Part 12: Vibration, variable frequency
МКС
31.080.01
Вид стандарта
ST
Обозначение заменяемого(ых)
IEC/PAS 62187(2000), IEC 60749(1996) в части, IEC 60749(1996)/Amd.1(2000) в части, IEC 60749(1996)/Amd.2(2001) в части, IEC 60749(2002) в части
Обозначение заменяющего
IEC 60749-12(2017)
Обозначение заменяющего в части
IEC 60749-12(2002)/Cor.1(2003)
Дата опубликования
01.04.2002
Язык оригинала
английский;французский
Количество страниц оригинала
10
ТК – разработчик стандарта
TC 47
Номер издания
1.0
Статус
Заменен
Код цены
A