IEC

IEC 62047-6(2009)

Полупроводниковые приборы. Микро-электромеханические приборы. Часть 6. Методы испытания на осевую усталость тонкопленочных материалов

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 6: Axial fatigue testing methods of thin film materials

Основные сведения

Статус
Действует
Количество страниц
34

Подробная информация

Обозначение
IEC 62047-6(2009)
Заглавие на русском языке
Полупроводниковые приборы. Микро-электромеханические приборы. Часть 6. Методы испытания на осевую усталость тонкопленочных материалов
Заглавие на английском языке
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 6: Axial fatigue testing methods of thin film materials
МКС
31.080.99
Вид стандарта
ST
Дата опубликования
16.04.2009
Язык оригинала
английский;французский
Количество страниц оригинала
34
ТК – разработчик стандарта
SC 47F
Номер издания
1.0
Статус
Действует
Код цены
D