IEC

IEC 62132-2(2010)

Интегральные схемы. Измерение стойкости к электромагнитным помехам от 150 kHz до 1 GHz. Часть 2. Измерение стойкости к излученным помехам. Ячейка ТЕМ и метод с использованием широкополосной ТЕМ

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 2: Measurement of radiated immunity - TEM cell and wideband TEM cell method

Основные сведения

Статус
Действует
Количество страниц
54

Подробная информация

Обозначение
IEC 62132-2(2010)
Заглавие на русском языке
Интегральные схемы. Измерение стойкости к электромагнитным помехам от 150 kHz до 1 GHz. Часть 2. Измерение стойкости к излученным помехам. Ячейка ТЕМ и метод с использованием широкополосной ТЕМ
Заглавие на английском языке
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 2: Measurement of radiated immunity - TEM cell and wideband TEM cell method
МКС
31.200
Вид стандарта
ST
Дата опубликования
30.03.2010
Язык оригинала
английский;французский
Количество страниц оригинала
54
ТК – разработчик стандарта
SC 47A
Номер издания
1.0
Статус
Действует
Код цены
F