IEC

IEC 62417(2010)

Полупроводниковые приборы. Испытания с подвижным ионом для полупроводниковых транзисторов с полевым эффектом металл-оксид

Semiconductor devices - Mobile ion tests for metal-oxide semiconductor field effect transistors (MOSFETs)

Основные сведения

Статус
Действует
Количество страниц
20

Подробная информация

Обозначение
IEC 62417(2010)
Заглавие на русском языке
Полупроводниковые приборы. Испытания с подвижным ионом для полупроводниковых транзисторов с полевым эффектом металл-оксид
Заглавие на английском языке
Semiconductor devices - Mobile ion tests for metal-oxide semiconductor field effect transistors (MOSFETs)
МКС
31.080
Вид стандарта
ST
Дата опубликования
22.04.2010
Язык оригинала
английский;французский
Количество страниц оригинала
20
ТК – разработчик стандарта
TC 47
Номер издания
1.0
Статус
Действует
Код цены
B