Основные сведения
- Статус
- Действует
- Количество страниц
- 38
Подробная информация
- Обозначение
- IEC 62418(2010)
- Заглавие на русском языке
- Полупроводниковые приборы. Определение объема пустот при металлизации
- Заглавие на английском языке
- Semiconductor devices - Metallization stress void test
- МКС
- 31.080
- Вид стандарта
- ST
- Дата опубликования
- 22.04.2010
- Язык оригинала
- английский;французский
- Количество страниц оригинала
- 38
- ТК – разработчик стандарта
- TC 47
- Номер издания
- 1.0
- Статус
- Действует
- Код цены
- E